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可靠性专题-低温测试CNAS
发布时间:2023-02-21 发布人:

低温检测、低温测试的目的:

低温测试的目的是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制,是确定军民用设备在低温条件下储存和工作的适应性及耐久性。低温下材料物理化学性能。标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。

低温条件下试件的失效模式:产品所使用零件、材料在低温时可能发生龟裂、脆化、可动部卡死、特性改变等现象。

低温检测、低温测试的方法:

低温测试对测试温度及测试时长没有固定的标准,需要委托方根据自身情况或客户要求自己确定测试条件。制定测试条件时可参考产品实际的存储环境、运输环境及使用环境等。常做的温度是-10至-35°C,时长有从几小时到几周不等。低温测试也没有固定的判定标准,需要委托方根据自身情况或客户要求自己确定。一般都是针对测试后产品外观、功能、性能受影响的程度。

低温检测、低温测试的标准:

GB/T2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》

IEC 60068-2-1:2007《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》

低温检测、低温测试的流程:

1.评估样品尺寸大小

2.填写委托测试申请表

3.送样测试

4.测试后判定是否合格

5.出具报告

 

 

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